PbS nanodaļiņas, kuras ir ievietotas ZrO2 plānā kārtiņā (ZrO2:PbS paraugi), ir perspektīvs materiāls starojuma dozimetrijas nolūkiem [1]. Dotajā pētījumā tika pētīta ZrO2:PbS paraugu pielietošana jonizējošā nano/mikro dozimetrijā. Nano/mikro dozimetrijā ir svarīga starojuma detektora izšķirtspēja, t.i. mazākais iespējamais laukums, kurš reaģē uz starojumu un ir nošķirams no blakus esošā apgabala. Lai noteikt starojuma detektēšanas izšķirtspēju ZrO2:PbS paraugiem, tie tika apstaroti ar elektronu starojumu, pie tam puse no katra parauga tika aizklāta ar starojumu vājinošo materiālu (alumīniju). Pēc paraugu apstarošanas tika mērīts virsmas elektriskais potenciāls apstarošanas robežas apgabalā un noskaidrots robežas biezums starp apstaroto un neapstaroto materiāla apgabalu. Šīs robežas biezums raksturo starojuma detektora izšķirtspēju. Ir konstatēts, ka pēc apstarošanas ar elektronu starojumu, rodas virsmas elektriskā potenciāla izmaiņas, kuras ir atkarīgas no PbS nanodaļiņu koncentrācijas paraugā. Izmantojot virsmas elektriskā potenciāla mērījumus, tika noteikts apstarošanas robežas biezums, kas ir: ZrO2:20%PbS ~ 1,5 mm, ZrO2:10%PbS ~ 0,6 mm. ZrO2 kārtiņai robežas biezums sastāda ~ 0,4 mm. Tika secināts, ka palielinot PbS nadodaļiņu koncentrāciju paraugos, pasliktinās iespējamā detektora izšķirtspēja. Iespējams, tas notiek elektronu izkliedes dēļ uz PbS nanodaļiņām.