Atslēgas vārdi Fatigue Crack Growth, Probabilistic Model
Nečvals, K., Nečvals, N. Probabilistic Models of the Fatigue Crack Growth Process = Plaisas noguruma pieauguma procesa varbūtiskie modeļi. Datorvadības tehnoloģijas. Nr.19, 2004, 114.-123.lpp. ISSN 1407-7493.
Publikācijas valoda English (en)
Publikācijas veids Publikācija RTU zinātniskajā žurnālā
Pamatdarbībai piesaistītais finansējums Nav zināms
Pētniecības nozare 2. Inženierzinātnes un tehnoloģijas
Pētniecības apakšnozare 2.2. Elektrotehnika, elektronika, informācijas un komunikāciju tehnoloģijas
Šī vietne izmanto sīkdatnes, lai uzlabotu lietošanas pieredzi un optimizētu tās darbību. Turpinot lietot šo vietni, Jūs piekrītiet sīkdatņu lietošanai!