esam veikuši atstarošanas režģu (AR) ierakstu molekulāro azostiklu kārtiņās ZWK-2TBp, ZWK-3p, WE-3b un ZWK-3b ar 532nm un 633 nm lāzeriem (attiecīgi Λ=0.182 μm un Λ=0.216 μm). Mērījumu rezultāti ir salīdzināti ar caurstarošanas režģu (Λ=2 μm) attiecīgajiem raksturlielumiem. Visaugstākā difrakcijas efektivitāte DE=0.91% ir sasniegta kārtiņā ZWK-2TBp, ierakstot ar 532 nm un nolasot ar 633 nm gaismu. Kopumā AR ieraksta efektivitāte ir aptuveni 10 reižu mazāka nekā caurstarošanas režģu gadījumā ar Λ=2 μm. Nav gūti pierādījumi tam, ka šo efektivitātes samazināšanos nosaka Releja izkliede. Jāatzīmē negaidītā iespēja AR ierakstu un nolasi veikt ar ļoti atšķirīgiem gaismas viļņu garumiem-532 un 633 nm. DE pie 633 nm ne tikai nav mazāka par DE pie 532 nm, bet ir pat lielāka.