Informācija par autoru
Vārds, Uzvārds:

Daniel Kropman

E-pasts:

Daniel.Kropman(at)rtu.lv

Publikācijas
Atrasti 1 rezultāti tiek attēloti no 1 līdz 1.
Understanding and Control of Stress at Si-SiO2 Interface
(2020)
Daniel Kropman, Viktor Seeman, Artūrs Medvids, Pāvels Onufrijevs, Svetlana Vitusevich, Valdek Mikli
Publikācijas konferenču materiālos, kas ir indeksēti Web of Science un/vai SCOPUS

KONTAKTI

IT Pakalpojumu centrs
Ķīpsalas iela 6B, Rīga, LV-1048, Latvija
T.: +371 67089999
E-pasts: it@rtu.lv
SAITES

Zinātne
Atvērtā zinātne
© Rīgas Tehniskā universitāte 2024
Šī vietne izmanto sīkdatnes, lai uzlabotu lietošanas pieredzi un optimizētu tās darbību. Turpinot lietot šo vietni, Jūs piekrītiet sīkdatņu lietošanai!
Piekrītu Lasīt vairāk