RTU Zinātniskās darbības rezultāti un resursi: Personāls

Informācija par autoru

Vārds, Uzvārds:

A. Opik

Publikācijas

Atrasti 3 rezultāti tiek attēloti no 1 līdz 3.

Strain Relaxation Mechanism in the Si-SiO2 System and Its Influence on the Interface Properties
(2009)

Daniel Kropman, E. Mellikov, A. Opik, K. Lott, O. Volobueva, T. Kärner, I. Heinmaa, T. Laas, Artūrs Medvids
Anonīmi recenzēts zinātniskais raksts, kas publicēts izdevumā ar starptautisku redkolēģiju un pieejams citā indeksētā datu bāzē

Strain Relaxation Mechanism in the Si-Sio2 System and Its Influence on the Interface Properties
(2008)

I Heinmaa, T. Kärner, D. Kropman, T. Laas, K. Lott, Artūrs Medvids, E. Mellikov, A. Opik, O. Volobueva
Citas publikācijas konferenču (arī vietējo) ziņojumu izdevumos

Impurities Interaction with Point Defects in the Si- SiO2 System and Its Influence on the Interface Properties
(2008)

I. Heinmaa, T. Kärner, D. Kropman, T. Laas, K. Lott, Artūrs Medvids, E. Mellikov, A. Opik
Raksts konferenču tēžu krājumā

Informācija par autoru

Publikācijas

Strain Relaxation Mechanism in the Si-SiO2 System and Its Influence on the Interface Properties (2009)

Strain Relaxation Mechanism in the Si-Sio2 System and Its Influence on the Interface Properties (2008)

Impurities Interaction with Point Defects in the Si- SiO2 System and Its Influence on the Interface Properties (2008)

Strain Relaxation Mechanism in the Si-SiO2 System and Its Influence on the Interface Properties
(2009)

Strain Relaxation Mechanism in the Si-Sio2 System and Its Influence on the Interface Properties
(2008)

Impurities Interaction with Point Defects in the Si- SiO2 System and Its Influence on the Interface Properties
(2008)